Imec lança Centro de Soluções Avançadas de Metrologia
O Imec lançou oficialmente o Center for Advanced Metrology Solutions (CAMS). Este centro se baseia na vasta experiência da Imec para oferecer um serviço comercial de alta qualidade para microscopia SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscopy) e uma ampla gama de produtos e soluções para permitir e facilitar as medições elétricas de microscopia de força atômica.
A microscopia SSRM - uma técnica inventada no Imec - é uma técnica baseada em microscopia de força atômica elétrica (AFM) que fornece distribuições de transporte quantitativo de alta resolução em estruturas semicondutoras 1D, 2D e 3D, como filmes finos, células solares, MOSFETs, FinFETs, TFETs, etc. Avanços recentes na resolução e extensão para outros materiais semicondutores (SiGe, Ge, InGaAs, INP, etc.) geraram um forte e crescente interesse na comunidade de semicondutores para a caracterização de estruturas avançadas. Para permitir que toda a comunidade se beneficie desses avanços, o Imec agora oferece um serviço SSRM comercial para clientes externos por meio de seu recém-criado Centro de Soluções de Metrologia Avançada.
Fonte: http://www.nanowerk.com/news/newsid=23768.php
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